Результаты поиска:

{{RESULT.context}}

Научно-исследовательская лаборатория мезо- и наноструктурированных функциональных материалов Нанофиз

Инвертированный микроскоп Биомед – 4И

 

• Назначение: визуальное наблюдение и морфологические исследования препаратов в проходящем свете в светлом поле и по методу фазового контраста.
• Методы исследования: инвертированный в проходящем свете в светлом поле, метод фазового контраста
• Диапазон увеличений, крат: от 40 до 40
• Револьверное устройство: 5 позиций для объективов с механизмом точной отцентровки относительно оптической оси
• Предметный столик: мм 160 х 250 мм, с керамическим покрытием;
• Осветитель: вертикальный осветитель Келера с галогенным источником света 6 В 30 Вт.

Установка для получения нанопористых оксидных пленок

 

Технические характеристики:
• Температура в зоне реакции, °С: от 10 до 50;
• Максимальная величина подаваемого напряжения, В: 30;
• Максимальная величина плотности тока, мА/см: 220;
• Площадь обрабатываемой поверхности образца, см2: 4;
• Частота регистрации параметров электрохимических процесса (клеммное напряжение, плотность тока, температура), Гц: 1

Автоматизированный комплекс для исследования свойств
наноструктурированных функциональных материалов.

 

Назначение: Комплекс предназначен для исследования состояния поверхностей и магнитооптических характеристик пленок, кристаллов и жидкостей методами зондовой и оптической микроскопии/спектроскопии. 
Состав комплекса:
• базовый модуль;
• модули для био-медицинских исследований и ближнепольной оптической микроскопии;
• управляющая электроника, активная виброзащита (СЗМ NTEGRA производства NT-MDT).
Выполняемые измерительные методики:
• Контактная атомно-силовая микроскопия (АСМ);
• Микроскопия латеральных сил (МЛС);
• Резонансная АСМ полуконтактная;
• Резонансная АСМ бесконтактная;
• Метод отображения Фазы;
• Метод модуляции силы;
• Изображение силы адгезии;
• Сканирующая емкостная микроскопия (СЕМ);
• Метод зонда Кельвина (МЗК) одно и двухпроходный;
• Магнитно-силовая микроскопия (МСМ);
• Электро–силовая микроскопия (ЭСМ);
• Силовая литография;
• Токовая литография;
• Наноманипуляции;
• Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия.
Размеры устанавливаемых образцов, мм:
• диаметр 30;
• высота 15;

Модуль предварительного экспресс анализа (СЗМ Nanoeducator II производства NT-MDT)

 

Назначение: Осуществление предварительной экспресс диагностики материалов методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), может использоваться в учебно-исследовательских целях и имеет соответствующее методическое обеспечение
Выполняемые измерительные методики
• АСМ Отображение рельефа;
• Отображение фазового контраста;
• Спектроскопия;
• Динамическая силовая литография;
• СТМ Отображение рельефа;
• Отображение тока (метод постоянной высоты);
• I(Z) спектроскопия;
• I(V) спектроскопия.
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY: 90 мкм;
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z: не менее 9 мкм;
Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров в плоскости XY: не более 5%;
Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров по оси Z: не более 1%;
Значение разрешения в плоскости XY: 100 нм;
Значение разрешения по оси Z:10 нм;
Нелинейность сканирования в плоскости XY: 30 нм;
Неортогональнасть сканера в плоскости XY: 2 град;
Неплоскостность сканирования в плоскости XY: 400 нм.
Максимальный диаметр образца: 12мм
Максимальная толщина образца: 5мм