Автоматизированный комплекс для исследований свойств наноструктурированных функциональных материалов
Марка: СЗМ NTEGRA
Фирма изготовитель: ЗАО «Нанотехнология-МДТ»
Страна происхождения фирмы изготовителя: Россия
Год выпуска: 2015
Количество единиц: 1
Наличие сертификата и других признаков метрологического обеспечения (да/нет): Да
Описание
Автоматизированный комплекс позволяет изучать особенности рельефа поверхности, отображать трехмерные структуры с нм разрешением, проводить исследования в воздушной и жидкой среде как проводящих, так и непроводящих материалов. Методы сканирующей зондовой микроскопии применяются для исследования объектов биологической и небиологической природы.
Область применения: физика, биология, химия; междисциплинарные науки – материаловедение, биохимия и биофизика, фармацевтика, нанотехнологии, физика и химия поверхности, электрохимия, исследование коррозии, электроника, фотохимия и др.
Конструкция Автоматизированного комплекса включает несколько модулей:
- Сканирующий зондовый микроскоп NTEGRA (базовый модуль; модули для био-медицинских исследований и ближнепольной оптической микроскопии; сканирующий оптоволоконный модуль; платформа с системой подвода; видеомикроскоп с системой завода излучения и регистрации сигнала; управляющая электроника; активная виброзащита);
- Сканирующий зондовый микроскоп NANOEDUCATOR (модуль предварительного экспресс анализа).
- Технические характеристики СЗМ NTEGRA
Марка: NTEGRA PRIMA с модификацией для проведения оптических измерений
|
Максимально поддерживаемые размеры образцов |
диаметр, мм |
40 |
|
высота, мм |
15 |
|
|
Максимально поддерживаемый вес образца, г |
100 |
|
|
XY позиционирование образца, мм |
5x5 |
|
|
Максимальных диапазон сканирования, мкм |
100×100×10 |
|
|
Уровень шума, Z, нм |
0.1 |
|
|
Уровень шума, XY, нм |
0.1 |
|
|
Ошибка измерения линейных размеров, % |
не более 1 |
|
|
Система видеонаблюдения |
оптическое разрешение, мкм |
3 |
|
поле зрения, мм |
2-0.3 |
|
|
Виброизоляция |
активная, Гц |
0.6-200 |
|
пассивная, Гц |
от 200 |
|
|
Универсальная измерительная головка |
тип детектирования |
лазер-фотодиод |
|
длина волны АСМ дефлектометра, нм |
650 нм; |
|
|
измерительные вкладыши |
- для контактной и полуконтаткной АСМ, МСМ с возможность измерения сопротивления растекания; - для контактной и полуконтаткной АСМ, ЭСМ методик, включая Метод Зонда Кельвина; - для контактной и полуконтаткной АСМ в жидкости |
|
|
Оптическая головка |
тип детектирования |
лазер-фотодиод |
|
длина волны АСМ дефлектометра, нм |
830 |
|
|
использование объектива позволяет, дополнительно к АСМ сканированию наблюдать образец с предельным оптическим разрешением, позиционировать лазерный луч на острие зонда и регистрировать отклонения кантилевера |
||
|
увеличение, числовая апертура объектива |
100х; 0.7 |
|
|
оптическое разрешение, мкм |
0.4 |
|
|
фокусное расстояние объектива, мм |
2 |
|
|
поле зрения, мкм |
~70 |
|
|
спектральный диапазон, нм |
от 400 до 800 |
|
|
держатели зондового датчика |
- для АСМ; - для СТМ |
|
|
Оптическая система накачки/ детектирования сигнала |
спектральный диапазон системы ввода/вывода излучения и сканирования лучом, нм |
от 450 до 800 |
|
лазер |
твердотельный, 532 нм, основная мода продольная, линейно поляризованный, мощность не менее 3 мВт |
|
|
Программное обеспечение |
Nova Px |
|
